2006年5月8日，北京市科学技术委员会组织专家对“BX系列同时测量型多道波长色散X荧光光谱技术”进行了科技成果鉴定。与会专家听取了项目组所作的技术研究报告、检测报告、查新报告、用户使用报告等并现场观看了样机演示。 
    与会专家经过认真讨论，形成如下鉴定意见： 
1. 提交的鉴定资料齐全、规范，符合鉴定要求。  
2. 该技术的创新性体现在： 
⑴  独创的双晶体分光器技术使可分析元素的数目成倍增加，拓展了小型多道X荧光光谱仪的应用范围； 
⑵  采用多路多道谱仪对元素谱峰实时采集和峰位自动校正技术，提高了特征荧光强度检测的稳定性，便于调试和故障诊断； 
⑶  准直器结构设计和加工工艺简单、尺寸小，提高了X光收集效率； 
⑷  成功地采用了理论α系数法，提高了分析的准确度；  
⑸  软件设计智能化程度高，可进行自动诊断、安全连锁和自动报警。  
3. 利用该技术已成功研制出BX-100型、BX-200型光谱仪，专业测试及工业使用情况表明具有良好的准确性、稳定性和可靠性。  
    综上所述，BX系列同时测量型多道波长色散X荧光光谱技术，填补了我国该技术领域的空白，具有广阔的应用前景和良好的经济效益，居国际先进水平。  
    鉴定委员会一致同意通过鉴定。  
    建议：继续拓展应用领域，加速产业化步伐，积极开发市场，创造更好的社会和经济效益。